- 一、服务简介
- 二、送样信息
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样品邮寄地址：浙江省 衢州市 开化县 城关镇泉塘路51号样品接收人：邹剑秋联系方式：15726995681
- 三、检测项目
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项目名称检测标准检测周期（工作日）检测价格（元）导电类型GB/T 1550-1997 | 非本征半导体材料导电类型测试方法7150电阻率GB/T 1551-2009 | 硅单晶电阻率测定方法7200径向电阻率变化GB/T 11073-2007 | 硅片径向电阻率变化的测量方法7150载流子寿命GB/T 26068-2010 | 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法7300氧含量GB/T 1557-2006 | 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法7150碳含量GB/T 1558-2009 | 硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法7150晶体完整性GB/T 1554-2009 | 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法7500直径GB/T 14140-2009 | 硅片直径测量方法7100厚度GB/T 6618-2009 | 硅片厚度和总厚度变化测试方法7200总厚度变化GB/T 6618-2009 | 硅片厚度和总厚度变化测试方法7200翘曲度GB/T 6620-2009 | 硅片翘曲度非接触式测试方法7300晶向GB/T 1555-2009 | 半导体单晶晶向测定方法7200晶向偏离度GB/T 1555-2009 | 半导体单晶晶向测定方法7150参考面晶学取向GB/T 1555-2009 | 半导体单晶晶向测定方法7400粗糙度GB/T 30860-2014 | 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法7300
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